研究人员开发出自修复电路

顾汉现

作者：Scott R. White 来源：《先进材料》

发布时间：2012-2-8 15:20:31

研究人员开发出自修复电路

美国伊利诺伊大学的工程师团队开发出了一种自修复系统，可以在极短时间内自动恢复受损电路的导电性能。研究人员将直径为10微米的微型胶囊分散在以金线构成的电路上。当电路受损时，微胶囊会破开并释放出内含的液态金属，这种液态金属会填充电路中的缝隙，恢复电路导通。研究人员计划将进一步改善这一系统，并探索利用微胶囊控制导电性的其他可能。研究人员表示，这一研究可以给航天工业带来福音，并有可能应用在电池的自修复方面，改善电池的安全性和寿命。相关研究工作发表在Advanced Materials上。（中国科学报 姜山)